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電接器和插座可靠性測(cè)試部分
發(fā)布時(shí)間：2021-08-31 415
電接器和插座可靠性測(cè)試部分：
低溫：電連接器低溫試驗(yàn)EIA/ECA-364-59A-2006
高溫：電連接器高溫壽命EIA-364-17B-1999、高溫儲(chǔ)存壽命JESD 22-A103D-2010
高溫：高溫偏壓工作壽命JESD 22-A108D-2010
機(jī)械沖擊：機(jī)械沖擊JESD 22-B104C-2004、零部件機(jī)械沖擊JESD 22-B110A-2004
跌落：電連接器跌落沖擊試驗(yàn)EIA-364-42B-1999
振動(dòng)：連接器的振動(dòng)試驗(yàn)EIA-364-28E-2006、變頻振動(dòng)JESD 22-B103-B-2002
濕熱：連接器的耐濕試驗(yàn)EIA-364-31B-2000、穩(wěn)態(tài)濕熱偏壓壽命測(cè)試JESD 22-A101C-2009、THB循環(huán)壽命試驗(yàn)JESD 22-A100C-2007
鹽霧試驗(yàn)：連接器的鹽霧腐蝕試驗(yàn)EIA-364-26B-1999、鹽霧 JESD 22-A107B-2004
熱沖擊：連接器的熱沖擊試驗(yàn)EIA-364-32D-2006、溫度循環(huán)JESD 22-A104D-2009、熱沖擊JESD 22-A106B-2004
 
電接器和插座性能測(cè)試部分：
插拔力測(cè)試 參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-13
耐久性測(cè)試 參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-09
絕緣電阻測(cè)試 參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-21
耐電壓測(cè)試 參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-20
接觸電阻測(cè)試 參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-06/EIA-364-23
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